CPO專用微型積分球
產品特色
- 消除對位漂移誤差: 在 Active Alignment 機械偶合階段,積分球幾何空間特性讓入光位置微幅漂移時,探測器讀數仍維持極度穩定。
- 高光功率密度衰減保護: 支援 4K 60fps HDMI / USB / 網路多介面同步輸出,平均延遲僅 80ms。
- 微型化與自動化整合: ELS 光源功率高,積分球內壁漫反射具備天然衰減效應(Integrating Multi-reflection),保護 InGaAs 探測器免於燙傷飽和。
- 雙通道同測 (Power+Spectra): 多埠 (Multi-port) 設計可同步連接 InGaAs 功率探測器與光纖輸出至光譜儀,同步檢測光通量與波長中心位移。
CPO 架構將矽光子 PIC 與超大規模運算 ASIC 整合封裝,解決傳統微型光偶合的空間散熱、多通道偏振敏感(PDL)及對位漂移痛點。Labsphere 微型積分球(Integrating Sphere)具備漫反射均勻化、空間高幾何容忍度與極低偏振敏感性,為 CPO 生態鏈提供不可或缺的光功率計量。
應用及核心優勢
| 封裝測試階段 | 說明與痛點解決 | 建議 Labsphere 產品對應 |
|---|---|---|
|
STAGE 01 ELS 外置雷射源模組測試 |
為高功率 CW Laser / DFB Laser 進行封裝前後總光通量與極致功率計量。配合 InGaAs 探測器無視大發散角與形狀,進行 100% 總光功率收集並降低光密度。 |
LPM-010-IG 或 3P-LPM-020-IG (Infragold 塗層) |
|
STAGE 02 SiPh 晶圓級/晶粒 CP 測試 |
在 2.5D/3D 高級封裝前進行 Known Good Die (KGD) 篩選。微型積分球探頭吸收所有光柵耦合出射光子,降低探針微小對位漂移與偏振態變化(PDL)造成的失真。 |
3P-GPS-010-SL (1 吋 Spectralon 塗層) |
|
STAGE 03 光纖陣列 FA 主動對位偶合 |
高精度 6 軸自動機台對位(Active Alignment)。積分球具超廣空間接收視角(FOV),給予驅動馬達穩定全向光功率反饋,加快盲尋與 Peaking 收斂。 |
3P-GPS-010-IG (1 吋精巧底座) |
|
STAGE 04 CPO 成品模組 FT 多通道測試 |
全功能封裝後之 8/16/32 通道光學效能與 ATE 自動化量測。多通道積分球光電探測陣列同時接收多路高功率訊號,消除通道間光學串擾(Crosstalk)。 |
Custom CPO-Array (客製化多通道陣列系統) |
量測原理對比
| 評估維度 | 傳統裸接收器 (Bare Detector) | Labsphere 積分球 (內部漫反射) |
|---|---|---|
| 對位穩定度與容忍度 | 對位微幅偏差即導致光斑超出晶粒敏感區,產生數據溢出與大幅跳動失真。 | 具備極高度空間幾何容忍度,即使光學對位發生偏移,輸入功率讀數依然恆定精確。 |
| 光束發散與偏振敏感 (PDL) | 易受大角度發散光邊緣截斷及入射光偏振角改變影響,衰減顯著。 | 球體內壁漫反射將光子完全空間混頻並消除偏振特徵(PDL 趨近於零)。 |
| 核心塗層選擇法則 | Spectralon® 塗層:在 1310nm / 1550nm NIR 近紅外區具有業界最高漫反射率(>99%),極適合微弱信號或要求極高量測精準度的 CP 晶圓級光柵測試。 | |
| Infragold® 塗層:耐高溫、損壞閾值高,適合高功率 ELS 外置雷射源測試,完全不必擔心雷射熱量破壞塗層結構。 | ||
| 自動化整合配件 | 連接埠 (Ports):標配 3-Port 或 4-Port 開口設計,支援 SMA905 / FC/PC 裸光纖固定轉接頭。 | |
| 感測器 (Detectors):可預裝冷卻型/非冷卻型 InGaAs 電池探測器模組,直接連接高精度 Power Meter。 | ||
產品規格
| 產品型號 | 系列與類別 | 核心塗層 / 反射率 | 建議光學波段 | 推薦 CPO 應用階段 | 物理特性與配備 |
|---|---|---|---|---|---|
| 3P-GPS-010-SL | GPS 系列 (通用微型球) | Spectralon® (>99% NIR) | 1000 - 1650 nm | CP 晶圓測試 / 主動對位 | 超高反射率、微型化設計、標配 3-Port 開口 |
| 3P-GPS-010-IG | GPS 系列 (通用微型球) | Infragold® (>95% NIR) | 1000 - 1650 nm | 主動對位 / 微型雷射測試 | 高熱傳導金屬塗層、頑抗光斑損傷 |
| 3P-GPS-020-SL | GPS 系列 (標準 2 吋球) | Spectralon® (>99% NIR) | 1000 - 1650 nm | FT 成品測試 / CP 晶粒量測 | 更高混頻均勻度、空間開口大、支援雙探測器 |
| 3P-LPM-020-IG | LPM 系列 (雷射功率專用) | Infragold® (>95% NIR) | 1000 - 1650 nm (O & C-band) | ELS 外置雷射源模組測試 | 專門針對高功率 CW 雷射設計、配備防光斑直射擋板 |
| LPM-010-IG | LPM 系列 (超微型雷射球) | Infragold® (>95% NIR) | 1000 - 1650 nm | ELS 晶粒與打線後初測 | 超極限空間限制專用,直連 InGaAs 放大探頭 |