Hinalea 4450 SWIR
產品特色
- 影像均勻性：線掃系統需要穩定的環境條件才能達到最佳效能，容易受到細微環境變化影響，進而影響影像均勻性。Model 4450 可一次性對完整目標區域成像，即使在動態環境下，也能擷取高度均勻的影像。
- 應用彈性：相較線掃技術，前視式系統於環境監測應用場景具備諸多優勢，其中又以彈性多元的觀測幾何選項最為突出。本系統除可靜態安裝之外，也能夠外接搭載於空中載具。
- 即時分類：Model 4450 系統獨具波長選擇能力，可依據應用場景與拍攝物體動態調控。系統支援多種操作模式，從具數百波段的高光譜解析靜態影像擷取，延伸至近即時影像擷取與分類。
- 完整的解決方案：Model 4450 系統搭載專屬應用軟體，支援影像擷取、影像瀏覽與分類功能。軟體內建簡易操作工具，使用者能夠直覺運用進階分割演算法，並即時檢視分析結果。
- 成本優勢：產品研發導入量產設計思維，同等效能規格下，整機成本遠低於同級競品。
Hinalea Model 4450 為該系列屢獲獎項之新一代智慧高光譜成像解決方案。Model 4450 光譜範圍涵蓋短波紅外（SWIR）1000–1700 nm，兼具優異光譜與空間效能、高成本競爭優勢以及可攜性。Model 4450 採用前視式高光譜成像架構，無須機械掃描。優勢包括：
產品規格
| Hinalea 4450 SWIR | |
| 尺寸（長×寬×高） | 218 mm x 76.1 mm x 76.6 mm |
| 重量（質量） | 1.60 Kg (3.52 lb.) |
| 輸入電壓 | USB 2.0 Micro, CameraLink |
| 工作溫 | Operating Ambient Temperature 15C° to 30C° |
| 濕度 | 65%, non-condensing |
| 標準鏡頭 | 100 mm FL, 31 to 35 degree FOV. Please consult us for other lens options. |
| 感測器空間解析度 | 640 x 512 pixel (optional 1280 x 1024) |
| 光譜範圍 | 1000-1700 nm |
| 光譜波段 | 108 nominal |
| 光譜解析度 | 15 nm (FWHM) |
| 動態範圍 | 使用者可選擇：8‑bit 或 16‑bit |
| 照明 | 選配 |
應用
生物醫學/醫療
工業
軍事
科學研究
附註(說明)
