VNIR-P-SC
產品特色
- 偏振高光譜相機可同時擷取光譜與偏振資訊，提供更豐富的多維度資料。
- 涵蓋 400–1000 nm VNIR 波段，光譜取樣間隔約 1 nm，細緻捕捉材料光譜特徵。
- 可計算 Stokes 參數 (I, Q, U, V)，應用於應力分析、表面粗糙度與材料辨識。
- 相機出廠前經過光譜及偏振響應校正，確保量測數據穩定可靠。
- 結構堅固耐用，適合工業檢測與科學研究使用。