Hinalea 4455 XSWIR
產品特色
- XSWIR 延伸短波紅外偵測能力：涵蓋 1120–2100 nm 光譜區段，具 225 個光譜波段，光譜解析度 15 nm (FWHM)，可針對長波短波紅外區進行物質辨識。
- 高速數據立方體擷取，支援動態波段選取：數秒內完成完整高空間解析度高光譜數據立方體擷取，使用者可選取部分波段，最佳化取像與處理效率。
- 卓越的影像均勻性：解決線掃描、圖案濾鏡快照式多光譜儀常見的影像均勻性問題，實現全畫面穩定一致成像品質。
- 輕巧機身、易於佈建：小型輕量機型、具備成本優勢，安裝架設彈性高，可搭配各式載具使用。
- 完整專屬軟體工具組：專屬應用軟體支援快速高光譜數據立方體擷取、直覺式影像分類、分割以及完備的光譜影像分析工具。
Hinalea Model 4455 為延伸短波紅外（XSWIR）高光譜成像感測器，採用前視式 Fabry–Perot 技術，機身小巧輕量、可攜性高，光譜範圍涵蓋 1120–2100 nm，硬體軟體一體化，適用於實驗室、產線以及戶外現場。
產品規格
| Hinalea 4455 XSWIR | |
| 尺寸（長 × 寬 × 高） | 80 mm × 80 mm × 264 mm |
| 重量（質量） | ~2.72 kg (~6 lb.) |
| 輸入電壓 | 110 VAC / 60 Hz or 220 VAC / 50 Hz |
| 資料介面 | USB-C / USB 3.0, Gigabit Ethernet / IEEE 802.3 1000BASE-T, IEEE 802.3af (PoE) |
| 工作溫度 | 15 °C ～ 30 °C |
| 濕度 | 65%, 非凝結 (non condensing) |
| 標準鏡頭 | 100 mm FL, 視角 30° FOV |
| 感測器空間解析度 | 636 × 508 pixels |
| 光譜範圍 | 設計適用～1120 nm 至 2100 nm |
| 光譜波段數 | 225 |
| 光譜解析度 | ~15 nm |
| 動態範圍 | 使用者可選；8 bit 或 16 bit |
| 照明模組 | 選配 |
應用
農業與食品科學
材料科學與工業檢測
製藥與化工
環境監測
安防與探測
軍事
科學研究/學術研究
附註(說明)
