Specim免費網路研討會

精確的塗層和層厚度測量對於各行各業的性能、合規性和成本效益至關重要。傳統方法可能速度慢、侵入性強，或不適用於線上檢測。在本次網路研討會中，您將了解高光譜成像 (HSI)如何為即時表面和塗層分析(例如電池箔、雙極板、晶圓)提供快速、無損且精確的解決方案，幫助您改進 QA/QC 並優化流程。