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測量 microLED watch 螢幕 (會點亮)

膜厚樣本實測

• 主題：利用高光譜成像技術檢測污染物並確保食品生產質量
• 日期：2025年12月11日 (星期四)
• 時間：11:00 AM EET

五鈴光學歡迎您訪問我們的網站，以獲取有關我們公司更多的產品訊息。若是會場上有服務不周之處還請見諒，您所詢問的產品報價會儘快與您回覆，如有任何問題也歡迎您來電洽詢。在此感謝您！

洽談合作計畫的可能性

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• 優惠效期至：2026 年 1 月 31 日

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• 主題：利用高光譜成像測量表面和塗層厚度
• 日期：2025年10月1日 (星期三)
• 時間：10:00 AM CEST

樣本試拍

今日公司同仁齊聚一堂，為南部同事舉辦歡送聚餐。感謝同事在公司期間的貢獻與付出，也祝願他在未來的路上一切順利，前程似錦。

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