LED面板量測 (Hinalea-4200M)

Hinalea-4200M

目的：LED面板光譜量測，透過x20工業顯微鏡放大檢視並量測手機面板上每一顆LED的主波長、峰波長、半波寬等訊號，可應用於LED面板檢測相關開發。

利用Hinalea 4200M 透過最高600個波段完整獲取高光譜影像，進行顯示器面板檢測，並獲 取各個LED的完整光譜特性。