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LED暫態熱阻量測系統

說明
LED 暫態熱阻量測系統是基於先進的JEDEC Static Method 測試方法(JESD51-1),通過改變電子器件的的輸入功率,使得器件產生溫度變化。在變化過程中,系統測試出晶片的瞬態溫度回應曲線,僅在幾分鐘之內即可分析得到關於該電子器件全面的熱特性。本系統採用的是“運行中”的即時測量的方法,結合其精密的硬體,可以快速精確捕捉到高訊噪比的溫度瞬態曲線。
本系統由工研院研發完成,並獲得2014 全球百大科技研發獎(R&D 100 Awards)。
只需3 分鐘,即可量測出完整的LED 封裝元件熱結構。
與T3ster 量測數據一致,並可適用於多種封裝LED。
彈性的夾治具,重現性比T3ster 更好。

 

技術規格
直流脈衝電流源
1.切換時間10µs
2.最大功率200W切換至20W(從加熱電流切換到測量電流)
3.切換電壓範圍:0-200V
4.加熱電流範圍:0-1A
電源供應
Keithley 2400 200V/0.1A & 20V/1A
Gwinstek GP R30H10D 300V/1A
溫度範圍
+15℃~150℃
解析度
0.01℃
測量單元(16個測量通道)
最大輸入電壓±10V
測量範圍±200mV / ±1V / ±5V / ±10V
最大採樣率250KS/秒
類比輸入解析度16位
熱測量輸出(處理後)
測量單位(工序)
熱響應-△TJ(t)
熱阻抗-Zth(t)
熱時間常數時序圖
結構函數(微分和累積)

 


參考規格